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  • MTI高精密微型變拉伸試驗機

SEM的材料拉壓測試解決方案

搭配電子顯微鏡(SEM)與光學顯微鏡(LM)進行材料的微型彎曲、疲勞、應變與拉伸等測試,雙槓設計能對稱的在樣品上進行加載。

多種樣品夾具(100磅、1000磅與2000磅)以及彎曲夾具,協助您量測到最精準的數據,另外,需要高溫測試也可選購加熱器。

特色

.電腦控制的加載框架

.尺寸小巧,可放在顯位鏡觀測台上

.輕質的鋁合金結構

.內部電機驅動

.適用於大多數的顯微鏡

.能在非磁性、真空環境下運作

.球軸承設計

.位置控制的解析度為皮米等級

.泛用型的材料測試系統

.快速安裝,簡單上手

.不須額外更動顯微鏡

.可選購加熱器

拉伸 軸心受壓 疲勞試驗

 

應用

產品SEMtester線能夠在各種材料進行拉伸,壓縮,彎曲,蠕變和疲勞試驗。

變形和鬆弛行為可以在動態或靜態載荷進行觀察。

可搭配樣品加熱器進行測試,以模擬實際操作條件期間使用。多種樣品夾具可幾乎接受任何樣本配置。

這種多功能性使得SEMtester適用於測試各種材料的產品線:複合材料/金屬/塑料/聚合物/纖維/紡織品/毛髮/食品/礦產/混凝土/生物材料/陶瓷製品/木材/玻璃/紙/輪胎橡膠

 

 

規格

模組

料號

測量範圍

精度

解析度

100 lbs. (0.5kN)

8000-0009

最大應變:27mm (1.6″)

±0.2%滿量程負載範圍

±20nm

1000 lbs (4.5kN)

8000-0019

最大應變:28.5mm (1.1″)

±0.2%滿量程負載範圍

 

1000 lbs EBSD (4.5kN EBSD)

8000-0027

最大應變:10mm(0.39“)

±0.2%滿量程負載範圍

 

2000 lbs (8.9kN)

8000-0050

最大應變:34mm(1.34“)

±0.2%滿量程負載範圍

 

AFM的材料拉壓測試解決方案

該款微型拉壓測試器專門應用於原子力量顯微鏡,可提供高達450N(100 lbs.)的高解析度拉伸/壓縮力量,協助進行材料的微型彎曲、疲勞、應變與拉伸等測試。

該產品重量僅有750 g 左右,非常適合在氣墊上使用。

特色

.降低產品高度,以符合顯微鏡尺寸

.線性刻度 – 從1.22nm到5μm都可進行編程

.資料擷取器 – 提供即時繪圖與數據

.荷重元 – 可輕鬆轉換,降低所需的力量

.短距離鏡頭也適用

 

規格

模組

料號

測量範圍

精度

解析度

MTI Tensile MicroStage Tester

8000-0075

最大應變:27mm (1.6″)

±0.2%滿量程負載範圍

±20nm