Event Detector 在JESD22-B111測試規範中扮演非常重要的地位,能用於判定daisy-chained的阻抗是否失效﹑多通道與高速擷取能力及大幅提高測試效率與判定準度。
MEMSTEC Event Detector有別於他家Event detector,可以直接提供阻抗變化數據,精準判定是否失效並提高測試信賴度。
MEMSTEC Event Detector |
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阻抗 |
加速度 |
應變 |
取樣速度 |
2.5 MS/s per channel (同步取樣) |
1 MS/s per channel |
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量測範圍 |
5000 Ω |
±10 V |
±10 V |
通道數 |
64 Channel (Total) |
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A/D解析 |
14 bit |
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精度 |
±0.02% |
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物理特性 |
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操作環境溫度 |
.0 to 55 °C |
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儲存環境溫度 |
–40 to 71 °C |
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操作環境濕度 |
10 to 90% |
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最高海拔 |
2000m |
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電源需求 |
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輸入範圍 |
100 to 240 VAC |
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衝擊與震動 |
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操作衝擊力 |
30 g peak, half-sine, 11 ms pulse |
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隨機震動 |
5 to 500 Hz, 0.3 grms |
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隨機工作頻率範圍 |
5 to 500 Hz, 2.4 grms |
系統測試
.簡潔畫面規劃 .同時顯示目前測試狀況,事件資訊,與失敗資訊 .循環測試與非循環測試設定 .多樣觸發模式功能-----時間觸發 or 光電訊號觸發 .多語系支援-----英文,簡體中文,繁體中文 |
資料分析
.事件資訊與失敗資訊同畫面顯示 .清晰簡明排列快速得到所需資料 .不同通道可快速切換確認 |